磁粉探傷儀與超聲波探傷儀原理及應用
探測金屬材料或部件內(nèi)部的裂紋或缺陷，常用的探傷方法有：X光射線探傷、超聲波探傷、磁粉探傷、滲透探傷、γ射線探傷、螢光探傷、著爭探傷等方法。物理探傷就是不產(chǎn)生化學變化的情況下進行無損探傷。
磁粉探傷：磁粉探傷是用來檢測鐵磁材料表面和近表面缺陷的一種檢測方法。當工件磁化，若工件表面有缺陷存在，由于缺陷處的磁陰增大而產(chǎn)生漏磁，形成局部磁場，磁粉便在此處顯示缺陷的形狀和位置，從而判斷缺陷的存在。
1.按工件磁化方向的不同，可分為周向磁化法、縱向磁化法、復合磁化法和旋轉(zhuǎn)磁化法。
2.按采用磁化電流的不同可分為：直流磁化法、半波直流磁化法、和交流磁化法。
3.按探傷所采用磁粉的配制不同，可分為干粉法和濕粉法。
超聲波探傷；原理是利用超聲能透入金屬材料的深處，并由一截面進入另一截面時，在界面邊緣發(fā)生反射的特點來檢查零件缺陷的一種方法，當超聲波束自零件表面由探頭通至金屬內(nèi)部，遇到缺陷與零件底面時就分別發(fā)生反射波來，在屏上形成脈沖波型，根據(jù)這些脈沖波形來判斷缺陷位置和大小
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